XRD Techniques

X-(XRD) on tekniikka, joka tarjoaa yksityiskohtaista tietoa kemiallisen koostumuksen ja kristallografinen rakenne luonnon tai ihmisen esine. Se ei toimi, kun rehtori tyypillinen x-ray paljastaa sisäosissa esineen. Pikemminkin XRD laite tulipalot x-säteet näyte ja mittaa kulmat ja palkkien suunnassa "diffraktio atomitasolla. Tällä mittaus, tutkijat voivat arvioida kemiallinen koostumus ja kristallografista rakenne tutkittavassa kohteessa. Jauhe Diffraction

Powder XRD voi olla yleisin tekniikka röntgendiffraktiolla. Näyte koostuu jyvät materiaalista analyysi. Diffraktiotutkimuksille voidaan käyttää myös opiskeluun yksilöiden nestesuspensioita. Termi "jauhe" ei viittaa jauhenäytteeseen vaan että kiteisen verkkotunnukset ovat satunnaisesti suuntautuneita näytteessä. Tulokset jauhe XRD koostuvat kannat ja intensiivisyys piikit, jotka tunnistaa taustalla rakenne näytteen. Tällä tavoin, timantti tai grafiittia tuottaa erilaisia ​​tuloksia, vaikka molemmat koostuvat hiili atomitasolla.
Thin Film Diffraction

Thin film diffraktio ei ole niin paljon yhden XRD tekniikkaa kokoelma tekniikoita analysoida ohuen kalvon näytteet kasvatetaan alustoille. Tätä tekniikkaa käytetään usein tutkimus ja kehittäminen mikroelektroniikan ja optiset laitteet. Tämä menetelmä on erityisen hyödyllinen mitattaessa tarkkoja hilavakiot joka auttaa arvioimaan rakenteellisia ja jäännösjännitys materiaalia.
Röntgendiffraktioanalyysi Techniques

Laadullinen analyysi XRD mittaukset tunnistaa taustalla rakenne mallin vertaamalla sitä kerättyjä kaltaiset aineet. Se vaatii tarkkoja mittauksia piikin paikat ja intensiteetit tehdä tarkka määrittäminen diffraction järjestelmän. Kvantitatiivinen analyysi XRD tietojen mittaa taustalla rakenne näytteiden, jotka eivät pidä jatkuvasti muodossa, kuten monivaiheinen yksilöitä. Toisin sanoen, se yrittää arvioida materiaalin ominaisuudet, joiden rakenne on aina muuttuvat läpi useita vaiheita. Tehokkaimmista tavoista määrällinen arviointi ovat hyvin monimutkaisia ​​ja vaativat tehokkaampia tietokoneita laskentaan. Onneksi useita edullisia versioita röntgendiffraktioanalyysi ohjelmisto on olemassa, vaikka ne eivät välttämättä ole yhtä "käyttäjäystävällinen" kuin kaupalliset.