Elektronimikroskooppi Määritelmä

Electron mikroskooppi on tieteellinen instrumentti rakennettu vuonna 1931, jonka tarkoituksena on parantaa suurennuksella hyvin pieniä esineitä. Periaatteena elektronimikroskopia perustuu elektronin aalto teorian kvanttimekaniikka. Luominen elektronimikroskoopilla tasoitti tapa mahdollisuus suurennoksilla näin, joten se arvokas keksintö tieteellisen tutkimuksen mukaan Nobel-säätiö. Historia

ensimmäisen työpäivän malli elektronimikroskoopilla johtuu Ernst Ruska ja Max Knoll. Vuonna 1928 professori Knoll valittu Ruska tehtävänä on luoda linssit, joka keskittäisi elektronisäteellä. Vuoteen 1931, Ruska luonut kaksi erityisesti suunniteltu magneettikelat joka keskittyi elektronisädesuihkua suurennus.
Theory

teoria elektronimikroskopiaa kehittyneet kvanttimekaniikka, tutkimus sähkömagneettiset kentät ja sähköisesti varautuneita hiukkasia. 1900-luvulla, elektronimikroskopia teoria on kehitetty selittämään pienen mittakaavan ilmiöt kuten elektronin liikkeitä. Vuonna 1924 Ranskan fyysikko Louis de Broglie arveltu, että elektronit näytteille aaltomainen liikkeitä. Tämä hypoteesi pohjustivat aalto mekaniikka, joka ehdotti, että electron aaltoja voidaan hyödyntää luoda korkean suurennuslasin mikroskoopit.
Definition

elektronimikroskooppitutkimukset (EM) on tyyppinen mikroskoopin, joka käyttää elektronisuihkulla suurentaa erittäin pieniä esineitä, kuten DNA-sekvenssit ja solun rakenteita. Yleisimpiä elektronimikroskoopilla ovat transmissioelektronimikroskoopilla (TEM), pyyhkäisyelektronimikroskoopilla (SEM), Heijastus elektronimikroskoopilla (REM), ja skannaus Transmission elektronimikroskoopilla (STEM). Nämä ja useat muut nopeisiin vaihtelee suurennustasoilla vaan se perustuu samaan periaatteeseen käyttää elektronisädesuihkua suurennus.
Toiminto

Elektronimikroskoopit toiminto suurennuslasilla ja ilmentää objektin topografia, morfologia, kokoonpano ja kristallografinen tietoa. Topografia on objektin fyysisen ominaisuuden (miltä se näyttää), morfologia koskee muodon ja koon, koostumuksen koskee kemialliset ominaisuudet ja kristallografinen tiedot viittaa objektin atomi järjestely, kuten johtavuus.
Vaikutusmekanismi

EM vaikutusmekanismi voidaan tiivistää neljässä vaiheessa: (1) muodostuminen virtaa elektronien, (2) sulkee virran muodostaa säde, (3) säätämällä painopiste palkin kautta magneettinen linssi ja (4) vuorovaikutus palkin ja kiinnostuksen kohde, joka sitten muuttuu suurennetun kuvan.